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共焦拉曼光谱仪与原子力显微镜联用技术
来源:英国雷尼绍公司(Renishaw) 资料
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共焦拉曼光谱仪与原子力显微镜联用技术
原子力/近场光学系统 用于化学结构分析的显微拉曼:高度灵活的Renishaw inVia显微共焦拉曼光谱仪 全面支持TERS测试(针尖增强拉曼散射) 高效直接耦合光路( 无需光纤)充分保障通光效率
来源:英国雷尼绍公司(Renishaw) 资料
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inVia与多种仪器联用技术
inVia显微拉曼光谱仪与多种仪器联用,实现微区原位测量 • 拉曼和显微红外联用 • 拉曼和扫描电镜联用 • 拉曼和原子力显微镜及近场光学显微镜联用 • 拉曼和激光共聚焦显微镜联用
来源:英国雷尼绍公司(Renishaw) 资料
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共焦拉曼光谱仪与原子力显微镜技术
,极大缩短了拉曼测量时间 • inVia系统可配备多种激发波长,适用于种类广泛的材料分析 • 正置和倒置显微镜均可配置 • 一台计算机同时控制拉曼和原子力两套系统
来源:英国雷尼绍公司(Renishaw) 资料
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inVia显微拉曼与原子力显微镜 (AFM) 联用
雷尼绍inVia显微拉曼光谱仪能与多个厂家/型号的AFM联用,包括Bruker、Nanonics和NT-MDT的多种AFM。 快速评估材料的质量和性能: • 来自inVia的化学认证和结构
来源:英国雷尼绍公司(Renishaw) 资料
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新型原子力显微镜:FX40,自动原子力显微镜
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 FX40原子力显微镜 应用
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WITEC共焦拉曼显微镜
来源:universalpei 资料
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Park XE15集多功能于一体的原子力显微镜
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 XE15 原子力显微镜 应用
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用
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利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
来源:Park帕克原子力显微镜 相关产品:帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用
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